Occasion ASM IBE 139 #293747536 à vendre en France

ASM IBE 139 Mask & Wafer Inspection Equipment est un système avancé conçu pour fournir l'acquisition et l'analyse d'images 3D haute définition pour les applications en salle blanche. Cette unité fournit une solution économique pour l'inspection de surface d'une grande variété de matériaux semi-conducteurs et optiques, y compris le quartz, les composites et les polymères. La machine peut être configurée pour répondre aux exigences de presque n'importe quel dispositif microélectronique ou optique, offrant jusqu'à 30x à 140x images de grossissement de la topographie de surface de travers-verre, arrière ou wafer. Sa conception modulaire garantit la flexibilité et une solution personnalisable pour toute tâche. L'outil dispose d'un certain nombre de capacités intégrées avancées, telles que l'imagerie par laser, hors axe, qui le rendent idéal pour identifier avec précision les défauts sur les plaquettes à motifs. ASM IBE139 comprend également une gamme d'outils pour mesurer la largeur des lignes, la saturation des pixels, la dispersion, les rayures, les goupilles, la dépolarisation, la réflectivité et la pénétration. En outre, l'actif est bien équipé pour gérer les tâches de test et d'imagerie qui nécessitent une imagerie haute gamme dynamique (HDR). Cette fonctionnalité avancée permet la capture simultanée de petites cibles en mouvement rapide et de réflexions de surface complexes. IBE 139 peut être programmé avec la microscopie électronique à balayage en champ proche automatisé (NSEM) et l'imagerie en champ lointain pour des tâches d'imagerie spécifiques à l'application, permettant une détection rapide et fiable des défauts et le contrôle des processus. Ce modèle comprend également un équipement intégré de normalisation des formes d'onde pour assurer des mesures fiables et répétables et la détection des défauts sur de longues périodes. Ses fonctionnalités avancées le rendent adapté à des applications telles que l'analyse de mouvement 3D, la surveillance du rendement et l'évaluation de la précision. De plus, IBE139 peut être intégré aux dernières solutions logicielles et matérielles pour la visualisation, la simulation, l'analyse et le reporting des données. Cela fournit un soutien complet à une série de tâches industrielles et de recherche. Le système intègre un puissant moteur serveur basé sur Java, offrant une évolutivité sans effort et des options de transfert de données. Il dispose également d'une technologie brevetée d'objectif d'ouverture intelligente qui garantit une excellente qualité d'image et un entretien facile de l'unité. En outre, cette machine d'inspection assure la précision, la fiabilité et la répétabilité des données lorsqu'elle est utilisée pour des applications telles que la fabrication de microcircuits et l'analyse des défauts. ASM IBE 139 Mask & Wafer Inspection Tool offre une solution complète pour des tâches industrielles sophistiquées. C'est un choix idéal pour une inspection précise des substrats et des surfaces de plaquettes. Sa conception flexible et ses capacités très avancées en font un outil puissant pour les processus d'assurance qualité.