Occasion ASM IBE 139H #9150566 à vendre en France

ASM IBE 139H Mask and Wafer Inspection Equipment est un système d'inspection automatisé avancé qui fournit des mesures précises et fiables des dispositifs et circuits semi-conducteurs. Il est utilisé à des fins de production et de recherche, et fournit des mesures 3D basées sur l'image de multiples caractéristiques et structures sur l'appareil. L'unité est conçue avec deux outils de mesure puissants et de haute précision dans une unité, y compris une machine de vision à haute résolution et un outil complémentaire porte-air. L'atout vidéo haute résolution est utilisé pour des mesures optiques rapides et précises des caractéristiques dans diverses couleurs, des structures fines et des images géométriques. Avec sa résolution de 0,36 µm, il peut acquérir jusqu'à 10 000 images distinctes de la structure en moins d'une minute et peut fournir une analyse détaillée des zones intérieures et extérieures de l'appareil. Le modèle complémentaire porte-air utilise la technologie de filtrage de l'air pour mesurer les composants électriques, optiques et mécaniques avec une grande précision. Cet équipement peut mesurer avec précision ces caractéristiques jusqu'à 10 microns. Le système supporte un certain nombre de systèmes de sondes différents, tels que des paliers à air, des sondes à aiguilles et des sondes à force. IBE 139H a la capacité de mesurer une variété de configurations de masques et d'échantillons de plaquettes, y compris des masques multiples, des plaquettes multiples et des épaisseurs variables. Ces échantillons peuvent mesurer de 0,5 mm à 20 mm. Son unité d'optique avancée et de sonde peut capturer et mesurer différentes parties de la structure avec précision et rapidité. Le logiciel pour ASM IBE 139H est également d'une grande valeur et possède un certain nombre de fonctionnalités. Il comprend le support multi-fichiers, la mesure et l'édition de la structure en un clic, les fichiers d'analyse et de contrôle de données, et les options de dessin de masque. Le logiciel fournit également des rapports dynamiques, des paramètres définis par l'utilisateur et une automatisation prédictive des erreurs pour garantir des mesures précises. Tout-en-tout, IBE 139H Masque et Wafer Inspection Machine est un outil d'inspection automatisé avancé et puissant capable de fournir des mesures précises, rapides et répétables de multiples caractéristiques et structures sur les dispositifs et circuits semi-conducteurs. Il est bien équipé avec un atout d'imagerie haute résolution et un modèle complémentaire porteur d'air, ce qui le rend adapté à des fins de production et de recherche. Son logiciel convivial le rend facile à utiliser et rend l'analyse des données exacte et fiable.