Occasion ASM ISIBE 139H #9396132 à vendre en France

ASM ISIBE 139H est un masque haute performance et un équipement d'inspection des plaquettes utilisé dans le processus de fabrication des semi-conducteurs. Il est équipé d'un large éventail de fonctions avancées d'imagerie et d'inspection qui peuvent détecter des défauts jusqu'à 11 microns, ce qui le rend idéal pour inspecter de minuscules caractéristiques sur des plaquettes complexes, telles que les motifs de masque et les structures MEMS. ISIBE 139H a une vitesse de fonctionnement élevée, ce qui lui permet de traiter des plaquettes à haut débit. Le système utilise une technologie avancée d'imagerie laser et d'inspection pour fournir des images extrêmement précises et précises des appareils. Ses algorithmes efficaces de traitement d'image garantissent que seules les caractéristiques les plus importantes sont capturées et analysées. Il est également équipé d'un système avancé de détection des défauts qui détecte les schémas mal alignés, manquants et éclaircis. L'unité est capable de détecter même les défauts les plus difficiles à détecter, ce qui la rend adaptée à des applications telles que la microscopie à force atomique (AFM) et la lithographie par faisceau électronique (EBL). ASM ISIBE 139H dispose également d'une machine de commande de focalisation de haute précision qui aide à fournir des images haute résolution. La 10 résolution μm de l'outil reflétante produit une plus grande région d'inspection que d'autres systèmes, en y permettant de découvrir plus de défauts dans une quantité de temps plus courte. L'actif est également équipé de capacités automatiques d'analyse et de classification des défauts, lui donnant un avantage sur d'autres systèmes d'inspection qui nécessitent une intervention manuelle pour l'identification des défauts. ISIBE 139H dispose d'une interface utilisateur intuitive conçue pour un fonctionnement facile et une formation minimale. Son modèle de calibration avancé permet un positionnement facile, précis et cohérent des plaquettes et des motifs de masques. L'équipement dispose également d'une capacité de mise au point automatique qui permet à l'utilisateur d'ajuster rapidement et avec précision la mise au point optique pour de meilleurs résultats. ASM ISIBE 139H est largement utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs, fournissant des capacités fiables de détection et d'identification des défauts. Sa haute performance, sa précision et son interface utilisateur intuitive en font le choix idéal pour les inspections de masques et de plaquettes. Ses fonctions d'imagerie avancée, de détection des défauts et d'étalonnage garantissent des résultats précis et fiables, ce qui en fait un outil essentiel pour tout processus de semi-conductrice.