Occasion ASM TIB 139 #293656557 à vendre en France

L'ASM TIB 139 est un équipement d'inspection non destructif avancé pour les défauts de masque et de plaquette. C'est la solution automatisée haute performance idéale pour le contrôle de la qualité, l'optimisation des processus et l'amélioration du rendement de fabrication. Le système est capable d'analyser un large éventail de défauts tels que les défauts cosmétiques, les frottements, la chenille, la contamination, les variations d'épaisseur, les particules et d'autres caractéristiques non conformes. Les principaux composants de l'unité comprennent la plate-forme d'inspection des semi-conducteurs, un module de réglage et de mandrin de plaquette, une machine de vision, une unité d'alignement et un contrôleur. La plate-forme contient un étage réglable et un outil de transport de plaquettes, et est construite à l'aide de matériaux rigides et d'amortisseurs, pour assurer un emplacement et un support précis des plaquettes. Le module de mandrin et de réglage de la plaquette est utilisé pour affiner le positionnement de la plaquette pour une inspection optimale, tandis que l'actif de vision est utilisé pour capturer les défauts et les analyser avec précision. L'unité d'alignement aide la caméra à acquérir des images exactes, ce qui permet d'obtenir des images de la plus haute résolution possible. Enfin, l'unité de contrôle assure un contrôle et un réglage fiables des paramètres du modèle afin d'optimiser les performances de l'équipement. Le système fournit une imagerie haute précision, haute vitesse et non intrusive, lui permettant d'inspecter jusqu'à 300 plaquettes par heure avec une précision allant jusqu'à 0,2 micron. L'unité d'imagerie permet aux techniciens d'analyser les images défectueuses et d'effectuer les ajustements appropriés rapidement et précisément. La machine utilise également une technique techno-couche pour distinguer les matériaux, permettant aux utilisateurs d'analyser des couches de plaquettes en plus de dispositifs individuels. L'outil est également conçu avec une interface graphique sécurisée et flexible. Cette interface permet aux utilisateurs de personnaliser les paramètres des actifs et d'étalonner le modèle en fonction de leurs besoins. Cela garantit que chaque équipement est adapté spécifiquement à la tâche à accomplir. Dans l'ensemble, le système TIB 139 Mask & Wafer Inspection System est une solution d'inspection facilement configurable et fiable. C'est un choix idéal pour la production de semi-conducteurs, permettant aux utilisateurs d'obtenir une grande précision et des résultats d'inspection fiables. L'unité a acquis la réputation d'être une machine de détection de défauts avancée et très fiable et a été mise en œuvre avec succès dans de nombreux grands sites de production industrielle.