Occasion ASM TIB 139 #9299463 à vendre en France

L'ASM TIB 139 est un équipement automatisé d'inspection des masques et plaquettes conçu par ASM Technology. Ce système permet une inspection rapide et précise des masques et des plaquettes pendant le processus de fabrication des semi-conducteurs. L'unité TIB 139 se compose d'un poste d'inspection automatisé et d'un logiciel de surveillance connexe. Le poste d'inspection automatisé utilise une machine en ligne éprouvée pour mesurer les dimensions critiques sur un masque ou une plaquette, ainsi qu'un outil de mouvement multi-axes pour l'imagerie précise et rapide. Le logiciel basé sur le moniteur est utilisé pour acquérir, manipuler, analyser et stocker les images acquises. L'actif ASM TIB 139 est capable de détecter un large éventail de défauts sur les masques et les plaquettes. Il compare les images à une conception de masque ou de plaquette prédéfinie, et est capable de signaler les défauts qui peuvent être présents, tels que les éléments manquants, la forme, le motif et les variations d'enregistrement de superposition. Le modèle peut également détecter la contamination, y compris les particules, les vides, les trous de broche et les grains. L'équipement TIB 139 est capable d'imiter une grande variété de matériaux, dont l'oxyde d'aluminium, le silicium, l'acier inoxydable et le quartz. Il peut également inspecter et imiter plusieurs niveaux de la surface d'un seul masque ou d'une seule plaquette avec une précision de sous-micron. En outre, le système dispose d'une unité de vide de haute qualité, qui lui permet de maintenir un environnement contrôlé pour la manipulation et l'imagerie des matériaux sensibles. La machine utilise également des microscopes à sonde multiple, qui sont utilisés pour mesurer avec précision diverses caractéristiques telles que les dimensions critiques et la précision de recouvrement. Dans l'ensemble, l'outil ASM TIB 139 est un outil polyvalent et fiable pour l'inspection des masques et des plaquettes. Il est capable de détecter avec précision les défauts sur un large éventail de matériaux, et son capital de vide de haute qualité et ses microscopes à sondes multiples permettent d'obtenir des résultats fiables dans un environnement contrôlé.