Occasion ASM TIB 139 #9299596 à vendre en France

L'ASM TIB 139 est un équipement d'inspection des masques et plaquettes conçu pour l'inspection semi-automatique des masques et plaquettes semi-conducteurs. Le système combine un appareil photo numérique CCD de 5 mégapixels et un objectif d'imagerie 3D de taille nanométrique avec une unité de scène automatisée et une machine d'éclairage à masque et wafer. Cela permet à l'outil de détecter des défauts de surface, des particules et des rayures sur le masque ou la plaquette pendant la production. L'actif a également la capacité de marchandiser et étalonner la caméra et le modèle d'éclairage pour obtenir une image précise. Le TIB 139 peut être utilisé pour diverses fonctions, y compris l'inspection par contact et sans contact, l'alignement du masque sur les coordonnées de la plaquette et la cartographie des identifiants de la plaquette et des numéros de série. L'équipement est conçu pour automatiser les opérations d'inspection, augmentant la productivité en réduisant la quantité de travail manuel nécessaire. De plus, le système peut être programmé pour reconnaître et rejeter automatiquement les masques et plaquettes défectueux. ASM TIB 139 peut être utilisé pour inspecter une variété de procédés semi-conducteurs, y compris la lithographie UV profond (DUV), photorésist, et d'autres procédés de revêtement. L'unité peut être calibrée pour différents formats de plaquettes et de masques, et permet d'étalonner automatiquement les différentes doses d'exposition et les profondeurs de mise au point. En outre, la machine peut être utilisée pour détecter les défauts visuels lors de la production, ainsi que pour vérifier la contamination causée par des particules sous-visibles. TIB 139 est conçu pour un fonctionnement et un entretien faciles. L'outil est équipé d'un grand moniteur tactile, qui permet aux utilisateurs de naviguer et de contrôler rapidement et facilement l'actif. De plus, le modèle comprend des modes de fonctionnement manuels et automatiques, ainsi qu'un équipement complet d'enregistrement des données qui permet aux utilisateurs d'enregistrer et de suivre les données d'inspection. L'ASM TIB 139 est un moyen pratique et intuitif d'inspecter les masques et plaquettes semi-conducteurs. Le système est conçu pour augmenter le volume de production et l'efficacité, tout en réduisant la quantité de travail manuel nécessaire. Ses capacités d'inspection automatisées permettent aux utilisateurs de détecter rapidement et avec précision les défauts de surface, les particules et les rayures, contribuant ainsi à assurer la qualité de leurs produits.