Occasion DCG SYSTEMS / CREDENCE EmiScope I #9118942 à vendre en France

DCG SYSTEMS/CREDENCE EmiScope I est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes qui utilise la technologie d'imagerie de dernière génération et les procédés d'ingénierie des matériaux pour inspecter et examiner les masques et les substrats de plaquettes semi-conducteurs. Ceci permet de détecter d'éventuels défauts et irrégularités de surface résultant d'opérations de production, de conditionnement ou d'expédition. CREDENCE EmiScope I est équipé d'un appareil photo numérique ultra haute résolution qui capture des images de surfaces de masques et de plaquettes allant jusqu'à trois angles distincts, permettant une analyse détaillée du profil, des niveaux microscopiques de détail et la détection des défauts. Le logiciel de l'unité fournit la reconnaissance automatisée des défauts et les réparations qui sont efficaces pour permettre l'imagerie rapide, la reconnaissance et la réparation des défauts. Les fonctions automatisées de réglage de la surface au foyer et les capacités automatisées de détection des défauts sont également incluses, ce qui permet d'utiliser des objectifs standard de microscope, des étages xyz et des systèmes d'alignement automatisés pour aligner les images. DCG SYSTEMS EmiScope I fournit des données capturées dans plusieurs formats : film monoplan ; stéréo ; images multipolaires/multiplanes ; image de puissance polaire ; et un détecteur de défauts capable de détecter des erreurs de production dans une zone donnée. EmiScope I est alimenté par Windows XP Professional. Ceci permet une interface utilisateur graphique (UI) pour exécuter des programmes tels que la « Boîte à outils d'analyse des défauts » qui permet de diagnostiquer, d'analyser et d'interpréter tout défaut de surface ou de plaquette identifié par l'outil d'inspection. Une caméra vidéo logicielle permet aux utilisateurs de surveiller les mouvements et les défauts du substrat en temps réel. DCG SYSTEMS/CREDENCE EmiScope I Inspection Asset est idéal pour une utilisation dans une variété de contextes tels que la recherche et le développement, les laboratoires, les environnements de production et les installations éducatives. Il a un design compact et modulaire qui le rend facilement transportable et peut être configuré pour n'importe quelle application. En outre, il est construit avec un design ergonomique le rendant facile à utiliser et à configurer. CREDENCE EmiScope I Masque et Wafer Inspection Model est un outil puissant, convivial et économique pour la détection et la réparation des défauts dans les substrats. L'équipement est capable de capturer des images haute résolution de surfaces de masque et de plaquettes, et dispose d'un logiciel puissant qui est capable de diagnostiquer, analyser et interpréter avec précision les défauts créés. La conception ergonomique du système, ainsi que sa compatibilité avec les systèmes informatiques Windows et Macintosh le rendent idéal pour une utilisation dans les laboratoires, la recherche et le développement, et dans les établissements d'enseignement.