Occasion DCG SYSTEMS / CREDENCE EmiScope III #9117179 à vendre en France

DCG SYSTEMS/CREDENCE EmiScope III est un masque semi-conducteur avancé et un équipement d'inspection des défauts de plaquettes. Le système est conçu pour découvrir les défauts des photomasques utilisés dans les procédés de fabrication des semi-conducteurs et sur les surfaces des plaquettes de silicium. Il utilise une technologie innovante pour effectuer des inspections à haute résolution à des taux de balayage rapides pour les conceptions de masques semi-conducteurs les plus complexes. CREDENCE EmiScope III utilise les derniers développements dans les technologies de lentilles et les systèmes d'imagerie optique pour obtenir une excellente clarté d'image et précision dans la détection des défauts de masque et de plaquette. Il dispose d'une caméra numérique haute performance de balayage de ligne avec un champ de vision ultra-large pour fournir une couverture étendue détaillée pour le masque haute résolution et la détection des défauts de plaquette. La machine intègre également une plate-forme d'inclinaison flexible à 5 degrés, une gamme de zoom élevée et un contrôle Servo Motor pour les applications d'inspection micro. DCG SYSTEMS EmiScope III élimine la nécessité d'une inspection manuelle en détectant automatiquement les défauts en peu de temps. Cet outil est équipé des algorithmes avancés de détection de défauts KLA, fournissant une classification rapide et précise des motifs de masques, des structures d'essai et des composants de montage de surface. Il produit des résultats sous la forme de rapports de synthèse complets, permettant aux utilisateurs d'identifier et de mesurer facilement les défauts. De plus, la suite logicielle interactive d'EmiScope III permet aux utilisateurs de modifier rapidement les paramètres d'inspection et de visualiser les résultats des défauts en temps réel. Il facilite les opérations d'alignement et de focalisation pour garantir une qualité d'image maximale. Le modèle offre également un contrôle automatique des obturateurs pour réduire l'exposition indésirable et la sensibilité aux interférences électromagnétiques (IME). DCG SYSTEMS/CREDENCE EmiScope III est conçu pour fournir une excellente performance et précision dans les inspections des défauts de masque et de plaquette. Cet équipement permet de découvrir rapidement les défauts dans une grande variété de conceptions de masques semi-conducteurs et sur des surfaces complexes de plaquettes de silicium. Sa technologie d'imagerie optique avancée et ses algorithmes de détection de défauts en font un choix idéal pour l'amélioration des processus et l'assurance qualité.