Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO Xvision #9383149 à vendre en France

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO Xvision est un équipement leader de masque et d'examen de plaquettes qui est conçu pour la production à haut volume de circuits intégrés haute performance (IC). Il utilise la technologie d'imagerie avancée, le contrôle logiciel et la robotique de précision pour automatiser les processus d'inspection et d'examen pour les masques et les plaquettes. Cela permet aux fabricants d'IC d'augmenter leur rendement et leur temps de mise sur le marché grâce à une inspection visuelle rapide des plus petites caractéristiques. SEIKO Xvision est le choix idéal pour inspecter et revoir les masques et les plaquettes dans des environnements de production à haut volume, grâce à sa vitesse impressionnante et à la précision de son fonctionnement automatisé. Le système utilise une optique haute résolution qui, associée à une robotique précise et à un contrôle logiciel avancé, lui permet de détecter avec précision même les plus petites tailles de caractéristiques et tolérances sur le masque ou la plaquette. Pour garantir la précision, SII NANOTECHNOLOGY Xvision utilise des algorithmes et des fonctionnalités sophistiqués, intégrés dans l'interface utilisateur. L'utilisateur peut personnaliser l'unité pour répondre à ses besoins individuels, en sélectionnant parmi une variété d'algorithmes qui travaillent ensemble pour fournir des informations uniques sur le masque et la plaquette. Par exemple, la machine peut être programmée pour identifier et mettre en évidence des caractéristiques subtiles dans des motifs de masque ou de plaquette qui peuvent être facilement manqués par les méthodes d'inspection classiques. L'outil dispose également d'une gamme de fonctionnalités avancées qui sont conçues pour assurer un fonctionnement fiable et une précision maximale. Par exemple, Xvision supporte l'utilisation de données en direct pour corriger les erreurs sur le masque ou la plaquette. En outre, l'actif offre une gamme d'outils avancés d'automatisation et de planification, qui peuvent être utilisés pour maximiser les vitesses d'inspection et réduire le temps total requis pour examiner une plaquette complète. En outre, SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO Xvision est équipé d'un modèle de sécurité amélioré pour garantir sa sécurité dans n'importe quel environnement. Cet équipement comprend une gamme de capteurs qui détectent tout événement inattendu, comme des changements soudains de vibration ou de puissance, et activent un mécanisme d'arrêt immédiat. SEIKO Xvision est un système innovant et polyvalent d'examen des masques et plaquettes, offrant aux fabricants d'IC une solution fiable et efficace pour leurs exigences d'inspection à haut volume. Grâce à ses capacités avancées en optique, robotique, algorithmes et automatisation, l'unité est capable de détecter avec précision et de dépanner même les plus petits défauts sur un masque ou une plaquette, permettant un processus de production IC réussi.