Occasion VON ARDENNE WM70H / C #9172921 à vendre en France

ID: 9172921
High end coating line Wafer metallizer In-line complete system for coating wafers Back coating of silicon wafers with an aluminum layer Coating of nickel, silver and aluminum by electron beam evaporation (35) Cells can be coated per tray Productivity: 4,000 Wafers (5") per hour 2,600 Wafers (6") per hour Cycle time: 50s Technical parameters: System dimensions: Length: 19 m Area: 20 x 7 m Height: ~3 m Drive: Carrier speed max: 5 m/min Carrier speed during vapor deposition: 1.5 - 2.0 m/min Substrate temperature: Max. temperature: 300°C / 572°F Carrier dimensions: Length: ~1,450 mm Width: 925 mm (60) Wafers (5") per carrier (40) Wafers (6") per carrier Ambient conditions: Ambient temperature: +15 to 35 °C +59 to 95 °F Relative humidity at 30°C / 86°F: < 70 % Dust: < 10 mg/m3 Sluice chambers C1 and C7 Buffer chambers C2 and C6 Transfer chamber C5 Process chamber C4: EB Chamber C3 / C4.1 / C4.2 Sputter chambers (5) Sections (C4.3 to C4.7) Vacuum Working pressure: C2 - Buffer chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C4.1 - EB chamber 5 to 9 x 10-5 mbar C4.2 - Intermediate chamber 2 to 5 x 10-4 mbar C4.3 - Intermediate chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C4.4 - Sputter chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C4.5 - Pump chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C4.6 - Sputter chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C4.7 - Intermediate chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C5 - Transfer chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C6 - Buffer chamber 2 to 5 x 10-3 mbar Leak rate: < 1 x 10-2 mbar l/s-1 Layer thickness / Properties: AI with copper: Thickness: 2 μm Wafer thickness: > 200 μm Temperature: 400°C / 752°F Purity: 99.98% AI with ceramic: Thickness: 3 μm Wafer thickness: 150 to 250 μm Temperature: 300°C / 572°F Purity: 99.5% Ag: Thickness: < 300 nm Sn: Thickness: < 300 nm NiCr: Thickness: < 40 nm Uniformity: ± 10% Evaporation: Production cycle: 120 h Power of electron beam Copper crucible: 100 to 200 kW Ceramic crucible: 20 kW Target material per cycle: 90 to 150 kg Vapor utilization: 48 to 50 % Target-substrate distance: 600 mm Carrier frequency: 60s Sputtering: Target material: Ag Target utilization: ~70% Target life: 240 h Cooling water: Particle size: ~50 mg/l pH Value: (8.0 to 9.0) Electrical conductivity: (150 to 250) μS/cm Acid capacity, Ks 4.3: (0.5 to 2.0) mmol/l Filterable substances: < 50 mg/l Chloride: < 10 mg/l Sulfate: < 30 mg/l Ammonium: < 0.5 mg/l Nitrate: < 10 mg/l Colony count (CFU): ~ 1,000 ml-1 TOC (total organic carbon): < 1.5 mg/l Inlet temperature: 21 to 25°C 69.8 to 77°F Differential pressure: 2 bar Absolute pressure max: 8 bar Water circuit 1 chambers: Volume flow: TBD m3/h Temperature: 25°C / 77°F Required pressure: 6 - 8 bar Cooling capacity: TBD kW Electrical system: 3 Phases, 3 AC 480 V Tolerance: -10/+6 % Frequency: 59 to 61 Hz Grounding resistance: <2 Ohm Connected load max: 400 kVA Function: Wafers are coated on one side with (2) metal layers.
VON ARDENNE WM70H/C est un équipement photorésist de pointe capable de produire des images et des motifs en couches minces de haute qualité. Le système est conçu pour créer des tailles jusqu'à 70 nm de largeur et 100 nm de hauteur avec une précision de 2 nm. L'unité comprend plusieurs composants tels que des photomasques, une machine de lithographie, de nombreux composants fluidiques, un distributeur de gaz et une source de résine. Les photomasques, qui servent à modeler la surface de la plaquette, sont d'abord chargés dans la machine de lithographie. Ensuite, les composants fluidiques distribuent rapidement la résine (un mélange chimique) sur le photomasque et la plaquette et contribuent à sa diffusion uniforme. La résine est ensuite exposée à la lumière d'une source d'inondation pour créer un motif de résistance qui fonctionne comme un modèle dans lequel les détails de surface seront formés. Un distributeur de gaz applique précisément un film de protection fluorocarboné sur la surface de la résine pour manipuler le flux gazeux et assurer la cohérence de l'émulsion. La résine est ensuite dénudée, rincée et séchée, et la plaquette est alors prête à subir une nouvelle gravure et à être dénudée. TheWM70H/C machine présente les composants les plus modernes du marché et offre une précision de placement d'image supérieure, une définition de motif de précision et une structure de film haute fidélité pour les processus de lithographie à semi-conducteurs entre 70 et 100 nm. Lorsqu'il est utilisé en combinaison avec un outil d'imagerie harmonique après gravure, WM70H/C offre des caractéristiques claires et détaillées, avec une précision de 2 nm. En outre, son large éventail de paramètres et d'opérations automatisées garantit un temps de mise en place minimal, ce qui se traduit par des gains de productivité importants. Il est idéal pour les environnements de production à haut volume de procédés semi-conducteurs avancés.
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