Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293605514 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL lithographie prober est un équipement de mesure de précision automatisé largement utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs. Il est conçu pour mesurer et contrôler automatiquement la qualité, l'uniformité et la fiabilité des dispositifs et composants semi-conducteurs au niveau submicronique. TEL P12XL est conçu pour recueillir et analyser simultanément des données provenant de vingt-quatre appareils. Il utilise un système avancé de mesure sans contact avec micro-lasers, optique et opto-électronique pour capturer les détails microscopiques des appareils. Cela lui permet de mesurer et de contrôler avec précision les performances des circuits intégrés (IC), des transistors à couches minces (TFT), des diodes électroluminescentes organiques (OLED) et d'autres composants semi-conducteurs avec un degré élevé de précision, de précision et de répétabilité. TOKYO ELECTRON P 12 XL est capable de mesurer des caractéristiques aussi petites que 0,2 microns et offre des débits de pointe dans l'industrie. Son unité automatisée se compose d'une machine de manutention des plaquettes de haute précision, d'un étage prober, d'un étage échantillon et d'un outil de vision. L'outil de manutention des plaquettes permet aux P12XL de déplacer rapidement et avec précision les plaquettes à l'intérieur et à la sortie de l'étage de prober et de l'étape d'échantillonnage. Le modèle exclusif de compensation des échantillons (pSCS) compense et positionne automatiquement les échantillons, au besoin, afin d'assurer des résultats fiables et reproductibles. L'équipement de vision utilise des algorithmes propriétaires et des grossissements optiques pour détecter et analyser les caractéristiques de surface, y compris les défauts tels que les puces, les ruptures, les raccourcis et les ouvertures. Le système mesure la résistivité et les paramètres optiques tels que l'intensité lumineuse, l'uniformité et la réflectivité. Cette capacité permet à TEL P-12XL d'effectuer des inspections délicates rapidement et avec précision, en veillant à ce que chaque appareil réponde aux normes strictes de l'industrie. En plus de ses capacités de métrologie et d'inspection avancées, P-12 XL offre également une gamme de fonctions pour l'analyse et la présentation des données. L'unité est équipée d'une machine intégrée d'acquisition et d'archivage des données, qui enregistre et stocke les données recueillies lors des mesures et inspections automatiques. L'interface graphique conviviale de l'outil offre une plate-forme intuitive pour examiner et interpréter les résultats. TEL/TOKYO ELECTRON P12XL est un prober avancé conçu pour mesurer et surveiller de manière fiable et précise les dispositifs et composants semi-conducteurs au niveau submicronique. Sa conception sophistiquée et son atout automatisé offrent un débit et une précision exceptionnels, permettant aux utilisateurs de s'assurer que la qualité de leur appareil est à la hauteur.