TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL d'occasion à vendre
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P-12XL
Prober, 12" TRX Nickel hot / Cold chuck top D230 Chiller Hard Disk Drive (HDD) Floppy Disk Drive (FD
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P-12XL
Prober VIP3A CPU Ni-Hot low-leakage chucktop, 12" Hot temperature controller Foup cassette loader Ca
13
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P-12XL
Probers Tri-temperature Hot / Cold chuck temp: (30°C to 150°C) Gold (WAT Chuck) Hard Disk Driver (HD
103
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TEL / TOKYO ELECTRON
P-12XL
Prober Missing parts: Stage motor driver assembly Loader base box assembly Loader Z-motor Arm IOM B
103
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TEL / TOKYO ELECTRON
P-12XL
Prober Missing parts: Stage motor driver assembly Loader base box assembly Main power supply IOM Bo
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P-12XL
Prober Missing parts: Stage motor driver assembly Loader base box assembly Main power supply Loader
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P-12XL
Prober Missing parts: Stage motor driver assembly Loader base box assembly Loader Z-motor IOM Board
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P-12XL
Prober Chuck type: Gold and hot Temperature range: 50°C - 150°C Head plate ring size: 645 mm Air p
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P-12XL
Prober Head plate ring size: 645 mm Air pressure: 0.45 MPa - 0.7 MPa Main air / Vac hose size: 6Ø Va
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P-12XL
Probers CPU Board: VIP3 (Can be updated to VIP3A) Cleaning unit: WAPP GPIB Floppy Disk Drive (FDD),
128
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P-12XL
Prober Hot & cold chuck Gold / Nickel chuck: Gold Hard driver: SSD 8G VIP3 CPU Dual / Single casse
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TEL / TOKYO ELECTRON
P-12XL
Automatic wafer prober, parts machine Includes: MITSUBISHI CP-30BA Pole circuit protector (2) MITSU
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P-12XL
Prober Wafer on chuck center Alignment center position Alarm monitor Buzzer VAC Sensor: Subchuc
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P-12XL
Automatic probe station Chuck type: Gold hot and cold, 12" Cold temperature: -40°C to 150°C CPU Type
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P-12XL
Wafer prober Chiller included XY Probing accuracy: ±4.0 μm Z Probing accuracy: ±5.0 μm Optical syst
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P-12XL
Prober Chuck type: Gold - Hot Chuck temperature: Ambient ~ +150°C CPU Board: VIP3A GPIB I/F Board SA
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P-12XL
Prober Chuck type: Hot / Cold, Ni Chuck temperature: Ambient ~ +150°C CPU Board: VIP3A GPIB I/F Boar
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P-12XL
Automatic probe stations Tri-temp Currently warehoused.
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P-12XL
Wafer prober XY Probing accuracy: ±4.0 μm Z Probing accuracy: ±5.0 μm Probing force: 100 kg Optical
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P-12XL
Wafer prober XY Probing accuracy: ±4.0 μm Z Probing accuracy: ±5.0 μm Probing force: 100 kg Optical
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P-12XL
Wafer prober XY Probing accuracy: ±4.0 μm Z Probing accuracy: ±5.0 μm Probing force: 100 kg Optical
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Wafer prober XY Probing accuracy: ±4.0 μm Z Probing accuracy: ±5.0 μm Probing force: 100 kg Optical
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