Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293679675 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL est une plaquette utilisée pour mesurer et analyser avec précision des circuits intégrés sur différents types de substrats allant des puces simples aux cartes plus grandes. Il s'agit d'un prober de contrôle de processus complet, doté d'un large éventail de composants matériels et logiciels. Le prober est capable de travailler avec une grande variété de substrats, allant de la taille de la filière aux plaquettes jusqu'à 12 pouces de diamètre. Le fonctionnement de TEL P12XL est régi par un progiciel modulaire fonctionnant à la fois hors ligne et en ligne. Il peut être intégré dans une plate-forme informatique, ce qui le rend adapté aux flux de travail automatisés. Associé à l'électronique et aux accessoires appropriés, le TOKYO ELECTRON P 12 XL permet aux utilisateurs de manipuler et de contrôler les performances clés, la température de l'air et l'humidité afin de maintenir la cohérence du flux de travail. Outre ses capacités polyvalentes, TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XL est également connu pour sa précision. Le prober utilise un alignement de tête de contact à double niveau, avec un positionneur et un système de coordonnées X-Y stable. Cela garantit que les substrats peuvent être placés avec précision dans le prober, ainsi que facilement et uniformément balayés et mesurés. En outre, le logiciel est complété par une gamme d'outils et d'accessoires pour la collecte et l'analyse de données précises dans la chambre de la machine. TOKYO ELECTRON P-12 XL est capable de détecter et de modifier les plages limites de tension et de courant afin de garantir un contrôle fiable des processus. Son système MicroCapability™, en particulier, est conçu pour produire des mesures de traces à haute résolution, tandis que le système Edge Research™ offre une station de sonde in situ à un seul point qui assure la précision des tests de précision et de caractérisation. Dans l'ensemble, TEL P-12 XL offre des capacités robustes et une gamme impressionnante de caractéristiques qui en font un prober approprié pour le contrôle et l'analyse détaillée des procédés dans l'industrie de la fabrication de semi-conducteurs.