Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293828518 à vendre en France
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ID: 293828518
Taille de la plaquette: 8"-12"
Prober, 8"-12"
Type: Fully automatic
Applications: Wafer-level parametric, functional, and reliability testing
Wafer chuck: Precision vacuum chuck with optional temperature control
Chuck temperature range: -60°C to +200°C
Motion system: Precision X-Y-Z-θ servo-controlled positioning
Positioning accuracy: ±1 µm (X/Y)
Z-Axis accuracy: ±0.5 µm
Alignment: Automatic wafer mapping with optical pattern recognition
Probe interface: Compatible with parametric and functional probe card test heads
Control system: Fully automatic operation with integrated wafer mapping and probe alignment
Utilities: Clean dry air (0.5-0.7 MPa) and vacuum
Power supply: 200-240 VAC, 50/60 Hz, 1.5–2.5 kVA.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL prober est un appareil d'essai de qualité professionnelle conçu pour effectuer des analyses de surface avancées. il est utilisé principalement dans la production de semi-conducteurs, l'analyse des matériaux, l'essai des dispositifs semi-conducteurs et l'emballage. TEL P12XL comprend une matrice porte-air pour les paquets COT qui peuvent atteindre un placement initial rapide avec une précision de ± 0,25. La technologie de mouvement à entraînement vertical assure un positionnement stable et précis. Ceci est particulièrement important pour l'échantillon d'analyse diélectrique de faible k, qui nécessite un alignement précis et répétitif. TOKYO ELECTRON P 12 XL dispose également d'un cadre de charge optimisé TEL qui fournit la meilleure capacité de caractérisation Force-Tension-Courant (FVC) en classe. Il permet des tests de fiabilité rapides, précis et à long terme des appareils. Le système à 5 axes offre une plus grande flexibilité de positionnement et une plus grande résistance aux vibrations que les sondes à 3 axes traditionnelles. La polyvalence P12XL est capable d'effectuer différents types de tests électriques. Entre autres, il peut effectuer des essais de résistivité et de résistance côté supérieur, de résistivité à base flottante, des essais de facteur de faible forme (SFF), des cycles thermiques à court intervalle et des essais thermiques transitoires. TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL est également livré avec un microscope optique qui facilite la proximité et l'imagerie localisée sans contact (LN2I). En plus de ses capacités de test avancées, le P 12 XL bénéficie d'améliorations significatives en termes de vitesse et de précision. Son champ de balayage permet un placement de filière haute vitesse et haute précision (< 0,1um). Une fonction de sécurité supplémentaire permet à l'opérateur de faire une pause et de valider les résultats entre les essais. Ceci est particulièrement utile pour les cycles d'essai plus longs. La conception globale de TOKYO ELECTRON P12XL a été améliorée par rapport aux modèles précédents. Les mécanismes améliorés favorisent la stabilité et la durabilité même dans les environnements à fortes vibrations. La construction robuste garantit des résultats d'essais cohérents et fiables. Enfin, l'architecture du microcontrôleur permet d'améliorer la précision, même lorsqu'il est monté sur un banc instable. En conclusion, TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XL est un prober polyvalent et performant qui offre une grande précision, vitesse et fiabilité. Il est idéal pour l'analyse de surface avancée et fournit à l'opérateur des résultats d'essai robustes et fiables.
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