Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9089358 à vendre en France
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ID: 9089358
Style Vintage: 2006
Automatic probe station
Chuck type: Gold hot and cold, 12"
Cold temperature: -40°C to 150°C
CPU Type: VIP3
Manipulator
Chiller D230
No RS232
GP-IB
No WAPP
No OCR
Ambient
SACC
Hinge manipulator
Head mount
Bracket and card interface kit for Ultraflex
Wafer loader: Right
2006 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Prober est un équipement de mesure de matériaux multifonctions de pointe conçu pour la recherche et le développement dans divers domaines. Ce système est capable de mesurer des échantillons de couches minces avec une grande précision, ainsi que de fournir une gamme de caractéristiques uniques pour aider à la recherche. TEL P12XL est équipé d'une unité d'imagerie spéciale haute résolution pour assurer la précision et la répétabilité des mesures. La machine d'imagerie se compose d'une tête de sonde, d'un micro-capteur de forme et d'un spectromètre pour détecter les différentes propriétés physiques de l'échantillon de couche mince, telles que la composition en oligo-éléments et l'indice de réfraction. TOKYO ELECTRON P 12 XL utilise également un mécanisme de suivi de cibles à plusieurs étages pour maintenir sa tête de sonde correctement positionnée dans une zone de mesure micro-prédéfinie. La tête de sonde est conçue pour une large gamme de mesures en couches minces, telles que l'évaluation de la rugosité de surface, la mesure de la rugosité moyenne de surface, la mesure de l'épaisseur des rayons X, la mesure de la réflectivité des rayons X, l'analyse de diffraction des rayons X et l'analyse de surface. Outre son outil d'imagerie de haute précision, TEL/TOKYO ELECTRON P12XL est équipé d'un puissant capteur de contraintes à plusieurs étages. Cet actif peut détecter toute déformation induite par le traitement ou la contrainte à la surface du matériau et mesurer avec une précision allant jusqu'à 10-8 microns d'hystérésis PV dans les échantillons à couches minces. Le capteur de détection de contraintes est préparé avec une variété de matériaux de surface pour une large couverture d'application en fonctionnement de contrainte de surface. TOKYO ELECTRON P-12XL utilise également une sonde de matériaux spécialement conçue qui offre une grande stabilité et répétabilité dans la mesure. Cette sonde est capable de détecter toute déformation de l'échantillon, telle que dilatation ou contraction de surface, ou la déformation partielle de l'échantillon dans la zone d'intérêt. P-12XL dispose également d'un contrôleur de température de haute précision, pour garantir des résultats de mesure précis dans une large gamme de températures. Toutes ces fonctionnalités se combinent pour fournir les mesures de haute performance de P-12 XL avec une excellente reproductibilité des données. TEL P 12 XL est capable de gérer des mesures à long terme et à court terme, ainsi que des événements à haute température. Toutes les mesures effectuées avec ce modèle sont ensuite traitées avec une interface graphique utilisateur intuitive, qui permet aux utilisateurs de comprendre facilement les interprétations des données. L'équipement comprend également une bibliothèque de documents standard, qui permet aux utilisateurs de comparer facilement les données pertinentes de leurs échantillons avec les données de référence acceptées. En conclusion, TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL Prober est un système de mesure de matériaux haut de gamme conçu pour la recherche et le développement. Cette unité est capable de mesurer avec précision des échantillons de couches minces, et fournit une variété de caractéristiques, telles qu'une machine d'imagerie haute résolution, un mécanisme de suivi de cibles multiétages, un capteur de stress, et un contrôleur de température de haute précision. L'interface graphique intuitive et la bibliothèque de documents standard permettent aux utilisateurs de comparer rapidement et facilement leurs données avec les repères acceptés.
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