Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9115797 à vendre en France

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL
ID: 9115797
Style Vintage: 2009
Prober VIP4 Board 2009 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL est un prober d'ultra haute précision conçu pour sonder et tester des circuits intégrés semi-conducteurs avancés. Il est capable de manipuler des plaquettes, des matrices et d'autres dispositifs d'un diamètre pouvant atteindre 12 pouces. TEL P12XL est conçu pour soutenir les essais manuels et automatiques d'appareils utilisant des technologies avancées de vision et de contrôle de force. Son mandrin à vide multi-zones supporte un balayage thermique et mécanique simultané sur le même dispositif, tandis que ses systèmes intégrés de vision et de lumière optique permettent l'alignement automatique de l'échantillon sur les faces du mandrin. Le prober est équipé de systèmes de mouvements verticaux, horizontaux et azimutaux indépendants conçus pour minimiser les dommages causés par les échantillons, ce qui permet d'obtenir une précision et une résolution sans compromis. Le bras de sonde coaxial permet de sonder verticalement et horizontalement de multiples emplacements de dispositifs en un seul mouvement. Le bras est également équipé d'un système de contrôle de la vision et de la force qui assure un positionnement précis et reproductible même dans des conditions extrêmes. En outre, TOKYO ELECTRON P 12 XL prend en charge une variété de techniques et de technologies de sonde, y compris la sonde de plots de contact de bord, la sonde de plots ribcontact, la sonde de plots doubles et la sonde de contact moulé. Le prober dispose également d'un système de micro-points unique qui fournit un profil de courant plus uniforme sur toute la gamme de l'appareil que d'autres technologies, assurant ainsi un niveau de performance plus élevé. Enfin, le prober est équipé d'un logiciel dédié qui offre une large gamme de fonctions et de capacités d'échange de données. Le logiciel permet aux opérateurs de définir des configurations de test, de vérifier les données de la sonde et de générer des rapports de test détaillés. En outre, le système est activement surveillé et adapté aux nouvelles technologies et caractéristiques grâce à un système avancé d'évaluation des capacités.
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