Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9254711 à vendre en France

ID: 9254711
Style Vintage: 2003
Wafer prober XY Probing accuracy: ±4.0 μm Z Probing accuracy: ±5.0 μm Probing force: 100 kg Optical system: ASU/BCU-I 2003 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Prober est largement utilisé dans l'analyse et l'essai des semi-conducteurs. Il est conçu pour fournir rapidement et avec précision des données de qualité pour une gamme de produits, du bas de gamme au haut de gamme. Il fournit des plaquettes fiables et des données de performance de la filière au maximum. TEL P12XL Prober est une solution de systèmes automatisés pour les tests de sondes et les mesures du niveau des appareils. Le prober de précision dispose d'un contrôle de mouvement avancé avec haute vitesse, positionnement précis et répétabilité. Le prober de 12 « x 12 » permet de positionner facilement la filière sur la zone du motif de test de 12 « x 12 ». Des données rapides et précises pour une gamme de produits sont garanties par la technologie EDM (usinage à décharge électrique) de détection de précision du prober. TOKYO ELECTRON P 12 XL Prober offre une gamme complète de capacités de test de wafer et de die, y compris la sonde de die et la sonde de niveau full wafer. Son puissant capteur de précision de niveau wafer est capable d'inspecter et de sonder avec précision différents types d'appareils électriques, tels que DRAM, SRAM, SRAMC, ROM, DRAM Memory et Semi-conducteurs embarqués. TEL/TOKYO ELECTRON P12XL Prober dispose d'une interface graphique facile à utiliser avec une grande variété de fonctions. La conception conviviale permet d'exécuter rapidement et précisément le processus de programmation et de test, tandis que l'affichage offre une visualisation complète de la filière ou de la plaquette à l'essai. Le prober est entièrement automatisé et assure la fiabilité en fournissant des informations statistiques détaillées. Le système qualité garantit des données précises et répétables à chaque cycle d'essai, tandis que la tête de test interchangeable permet des configurations de sondes complexes. P-12 XL Prober est également équipé d'un logiciel d'analyse avancé pour les tests et la simulation, assurant les mesures les plus précises et fiables de la matrice et des plaquettes. La flexibilité du matériel et des logiciels du système est adaptée pour produire les données les plus précises dans les plus brefs délais. Il en résulte une meilleure qualité et aucun taux de défaillance pour une production, un procédé ou un dispositif.
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