Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9279691 à vendre en France

ID: 9279691
Probers Tri-temperature Hot / Cold chuck temp: (30°C to 150°C) Gold (WAT Chuck) Hard Disk Driver (HDD) Floppy Disk Driver (FDD) OCR: INSIGHT 1700 Single cassette Fail mark inspection Auto needle alignment Auto needle height GB-IP Ethernet WAPP Air type Operating system: Rzz00-R015.01-T Configuration disk CPU Board: VIP3 Power supply: 200 V, AC No chiller No APC No SACC No motor No air No cart 2008-2009 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL est un prober de haute précision conçu spécifiquement pour l'analyse des défaillances des dispositifs semi-conducteurs. Il dispose d'une plate-forme de mesure automatisée avancée, permettant un test précis et rapide des plaquettes semi-conductrices. TEL P12XL prober dispose d'une gamme de fonctionnalités et de capacités, y compris un système d'indexation à grande vitesse et des sondes de test tactiles et sensorielles dédiées pour la détermination précise des points de défaillance de l'appareil. TOKYO ELECTRON P 12 XL dispose également d'un système d'imagerie numérique haute résolution pour capturer des images de filière avec une extrême précision, offrant une visibilité détaillée sur les défauts des semi-conducteurs. De plus, son système d'équilibre des forces et d'adhérence sous vide minimise la contamination et assure le retrait contrôlé des appareils de son tableau d'essai. En plus de ses fonctions de sondes de précision, TOKYO ELECTRON P-12XL propose une suite d'outils logiciels, tels qu'un fabricant de fichiers de configuration de plaquettes et un éditeur de programmes de test, permettant aux ingénieurs de mettre en place rapidement et efficacement des tests et d'exécuter des tests sans programmation étendue ou manipulation de données. TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XL offre également de nombreuses fonctions de détection et d'analyse de défauts, y compris la détection simultanée de plusieurs dispositifs, la détection de défauts à grande vitesse et un outil intégré de caractérisation de la matrice pour une analyse de rendement améliorée. Le prober supporte également plusieurs tailles et types de plaquettes, y compris la céramique, le verre et les substrats de quartz. Construit à partir d'acier résistant à la corrosion et de cuivre, P-12XL est conçu avec la facilité d'utilisation du client, avec des contrôles faciles à utiliser et des indicateurs LED pour la surveillance de la précision et des performances. P-12 XL est conçu pour être utilisé dans des applications ultra-précises d'analyse des défaillances au niveau des semi-conducteurs. Il est également capable de tester la fiabilité et la validité, d'analyser l'intégration des appareils et le flux de signaux, et de tester les normes de sécurité et d'environnement. Idéal pour les laboratoires de recherche et développement de pointe, TEL P-12 XL offre des performances, une précision et une fiabilité exceptionnelles dans un ensemble convivial.
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