Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9298733 à vendre en France

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL
ID: 9298733
Style Vintage: 2005
Wafer prober 2005 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL est un prober haute performance conçu pour des applications de sondes de plaquettes dans la fabrication de semi-conducteurs. Cet outil automatisé offre un large éventail de fonctionnalités et de capacités, y compris la mesure de haute précision avec précision répétable, le tri automatisé des plaquettes et les tests avec des capacités intégrées de reconnaissance d'image, le contrôle avancé de la sonde à l'aide d'un logiciel compatible avec Windows, et un bras robotique de plaquette à grande vitesse. TEL P12XL utilise le transformateur différentiel variable linéaire (LVDT) pour mesurer le mouvement vertical de l'extrémité de la sonde à haute précision et répétabilité - jusqu'à 1 million de cycles de répétition pour garantir des résultats cohérents. Ceci est évalué pour une force maximale de sonde de 80 Newtons. Un équipement de mesure de surface inversé en option est disponible pour la manutention des plaquettes du côté inférieur. TOKYO ELECTRON P 12 XL dispose d'un système de vision automatisé qui utilise des caméras CCD intégrées pour détecter les défauts des puces. Les caméras de ce prober sont capables de capturer des images de lignes de puce, de régions ou de points et de les analyser pour détecter des défauts. Cette même unité peut être utilisée pour aider à localiser les appareils sur la plaquette pour les processus de tri de niveau supérieur. TOKYO ELECTRON P-12XL possède des fonctionnalités avancées pour la manipulation et le contrôle de l'opération de sonde. Le logiciel compatible avec Windows permet de paramétrer des programmes complexes pour des opérations de sondes complexes. De plus, un bras robotique en option peut être utilisé pour automatiser le mouvement des plaquettes et faciliter le tri et le traitement plus rapides. En conclusion, TEL/TOKYO ELECTRON P12XL est un distributeur avancé de plaquettes conçu pour la fabrication de semi-conducteurs. L'utilisation de la mesure de précision, de la machine de vision automatisée, du contrôle avancé de la sonde et d'un bras robotique en option permet d'automatiser les tests, le tri et les processus d'inspection.
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