Occasion JEOL JSM 6330F #293664772 à vendre en France

JEOL JSM 6330F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui offre des caractéristiques haut de gamme telles que la résolution nanométrique, la résolution énergétique entre 0,1-2,0 keV, ainsi que la capacité de détection à bas seuil avec une résolution de 0,14 nm. Cela permet de caractériser les structures à l'échelle du nanomètre, et permet l'imagerie fiable d'échantillons extrêmement minces. JEOL JSM-6330F offre une imagerie haute résolution des échantillons jusqu'à une épaisseur de 200 nm, avec une taille minimale de 0,5 nm. Cette sensibilité élevée est également soutenue par l'incorporation des modes Everhart-Thornley et de pression variable, qui sont idéales pour l'imagerie d'échantillons faiblement absorbants et de matériaux sensibles au vide. Le SEM est équipé d'une gamme de détecteurs, y compris un détecteur d'électrons rétrodiffusés et un détecteur d'électrons secondaires, permettant l'observation d'informations topographiques et compositionnelles dans une très petite région. Cela permet un détail inégalé des objets trop petits pour être vus avec un microscope à lumière. JSM 6330 F permet également l'acquisition de cartes élémentaires à rayons X très sensibles, qui permettent la quantification de divers éléments contenus dans l'échantillon. De plus, le système de microanalyse comprend une unité de spectrométrie dispersive de longueur d'onde, qui détermine avec précision la composition élémentaire des échantillons jusqu'à 30 μ m. Pour des performances supérieures, le système intègre une colonne mécanique ultra-stable, conçue pour minimiser la dérive et les vibrations des étages afin d'assurer un fonctionnement précis. Le système intégré d'imagerie numérique renforce encore la fiabilité globale du SEM, en fournissant un soutien pour l'analyse des matériaux et pour la capture et le stockage d'images. Enfin, JEOL JSM 6330 F comprend un logiciel convivial conçu pour faciliter le fonctionnement en fournissant des paramètres préprogrammés et des fonctionnalités d'automatisation. Cela permet des flux de travail efficaces, permettant une préparation et une analyse rapides des échantillons au sein d'un même processus. En résumé, JSM 6330F est un microscope électronique à balayage exceptionnel, offrant des performances et une fiabilité considérablement améliorées lors de l'obtention d'images et de données. Cela le rend idéal pour une variété d'applications allant de la recherche scientifique fondamentale à l'analyse des matériaux dans des environnements industriels.