JEOL JSM 6330F d'occasion à vendre
En avez-vous un à vendre?
Soumettre à la vente
4
résultats trouvés
Filtres
Effacer tout
Filtres
4 résultats
Style Vintage
-
(1)
-
(3)
Produit populaire
JEOL
JSM 6330F
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) With EDAX OXFORD INCA 250 EDS System OXFORD EDX
90
Vous ne trouvez pas ce que vous cherchez?
Produit populaire
JEOL
JSM 6330F
Scanning electron microscope (SEM) Electron beam energy: 0.2-40 keV Secondary electron imaging: Re
83
