Occasion JEOL JSM 6330F #9041540 à vendre en France

JEOL JSM 6330F est un microscope électronique à balayage de type tablette (SEM) utilisé pour étudier les caractéristiques microstructurales ou de surface d'une variété de matériaux. Cet instrument utilise des électrons secondaires générés par un faisceau d'électrons qui est focalisé sur la surface de l'échantillon pour produire une image ou analyser la topographie de surface, la composition ou d'autres caractéristiques physiques du matériau. JEOL JSM-6330F fonctionne en mode haute ou basse dépression et est capable de grossissements jusqu'à 32 000 x. Le mode basse dépression du JSM 6330 F permet de préparer des échantillons non conducteurs, tels que du carbone, sans revêtement métallique. Ce mode supporte également l'imagerie sous vide de matériaux très conducteurs, tels que l'or. Le mode à vide élevé offre une distance de travail plus courte qui permet des zones de travail plus grandes et des tailles de taches plus fines. JSM-6330F est capable d'imagerie en vraie couleur ou en fausse couleur. La vraie couleur SEM permet de scanner les échantillons dans leur couleur naturelle, tandis que la fausse couleur SEM élimine toute différence de couleur de sorte que l'image est produite entièrement en nuances de gris. JEOL JSM 6330 F est équipé d'un détecteur d'électrons secondaire Everhart-Thornley pour améliorer les rapports signal à bruit ainsi que d'autres composants tels qu'un étage de cryo, des étages de chauffage et de refroidissement, des étages à pression variable et la capacité d'automatiser le balayage d'échantillons. Le logiciel ci-joint est incroyablement convivial et comprend une gamme de fonctionnalités supplémentaires telles que la cartographie de la taille des particules, l'édition d'images, le traitement d'images et l'analyse quantitative. JSM 6330F est un SEM robuste et polyvalent parfait pour visualiser et analyser des caractéristiques petites et délicates, telles que des fractures microscopiques ou de minuscules composites à matrice de surface. L'inclusion des détecteurs E-T permet une plus grande couverture des détecteurs, une efficacité de détection accrue et un meilleur rapport signal sur bruit. Avec ses options logicielles personnalisables et sa gamme étendue d'accessoires, JEOL JSM 6330F est un microscope électronique à balayage sur tablette puissant et abordable pour l'étude de divers matériaux dans des environnements académiques et industriels.