Occasion JEOL JSM 6330F #9071903 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6330F (SEM) est un outil polyvalent pour effectuer l'analyse détaillée d'un large éventail d'objets. Le système d'imagerie puissant et multifonctionnel offre une excellente résolution et un contraste élevé pour une variété de types d'échantillons. Sa taille compacte et son design léger le rendent populaire auprès des laboratoires de toutes tailles. JEOL JSM-6330F offre un certain nombre de techniques d'imagerie, y compris l'imagerie électronique rétrodiffusée, l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie composite couleur ESB, et STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy). Il comprend également un foyer variable, un détecteur d'électrons secondaire dédié, et un filtre d'énergie efficace dans la colonne. Avec un onduleur à forte puissance, le microscope peut utiliser une gamme complète de grossissements de 15x à plus de 200,000x. Grâce à son porte-échantillon motorisé à 6 axes, le JSM 6330 F peut gérer un large éventail de types d'échantillons et fournir une préparation et un balayage automatisés précis. En plus de ses capacités d'imagerie, JSM-6330F est également équipé de trois systèmes d'analyse avancés qui permettent des analyses sophistiquées telles que EDS (Energy Dispersive Spectroscopy), WDS (Wavelength Dispersive Spectroscopy) et EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy). Ces systèmes permettent l'analyse élémentaire ou compositionnelle de tout échantillon. JEOL JSM 6330 F offre une excellente qualité d'imagerie ainsi qu'une variété de capacités analytiques avancées. Ses fonctions de numérisation et d'imagerie robustes aident les utilisateurs à obtenir des images haute résolution et des résultats analytiques très précis. C'est un outil idéal pour les chercheurs et les scientifiques dans une variété de domaines qui ont besoin d'un SEM fiable et polyvalent.