Occasion JEOL JSM 6330F #9131143 à vendre en France

JEOL JSM 6330F est un microscope électronique à balayage avancé (SEM). Il est conçu pour une gamme d'applications allant de la caractérisation des petites particules à l'imagerie à l'échelle nanométrique. Ce SEM offre plusieurs caractéristiques avantageuses, dont une conception de mini-colonne intégrée, une grande chambre d'échantillon, et un étage d'échantillon plat. La conception de la mini-colonne 65kV permet un positionnement précis du faisceau et une qualité d'image. Il permet un positionnement précis du faisceau sur une grande surface, fournissant une imagerie haute résolution. La résolution de ce SEM est jusqu'à 1,2 nanomètres sur un détecteur d'électrons rétrodiffusé. L'agrandissement de l'image est de 0,3x à 300x, avec une résolution de 0,8 nanomètres. La grande chambre de spécimen peut accueillir une grande variété de spécimens dans une variété de tailles et de configurations. Cela permet une analyse efficace et cohérente. L'étape du SEM peut contenir des spécimens jusqu'à 100 millimètres de taille, permettant un large éventail de scénarios de recherche. JEOL JSM-6330F permet également l'imagerie automatisée à grande vitesse. Il est capable de scanner jusqu'à 5 champs de spécimens différents dans un seul balayage d'image. Ceci est particulièrement utile pour la recherche nécessitant des analyses multiples ou pour l'analyse de grandes surfaces. Ce SEM est équipé de plusieurs détecteurs pour collecter différents types de données. Il s'agit notamment d'un détecteur d'électrons secondaire, d'un détecteur d'électrons rétrodiffusé, d'un détecteur d'électrons à basse énergie et d'un spectromètre à dispersion d'énergie. Chaque type de détecteur offre différents types de données qui peuvent être utilisées pour obtenir plus d'informations sur un spécimen. JSM 6330 F est un outil optimal pour le travail dans le domaine des nanotechnologies. Son pouvoir de résolution élevé, ainsi que ses capacités d'imagerie automatisée, permettent aux chercheurs d'étudier des spécimens au niveau du nanomètre. Cela permet aux chercheurs d'obtenir des informations précieuses sur la structure et la composition des matériaux à l'échelle nanométrique. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6330 F est un microscope électronique à balayage avancé qui offre une gamme d'avantages. Il est capable d'imagerie haute résolution, d'imagerie automatisée, de détecteurs multiples et d'une grande chambre de spécimen. Cela en fait l'outil idéal pour la recherche et les applications à l'échelle nanométrique.