Occasion JEOL JSM 6330F #9164163 à vendre en France

JEOL JSM 6330F est un microscope électronique à balayage (SEM) capable de produire des images à haute résolution de diverses surfaces jusqu'à une résolution de 50 nanomètres. Son système d'imagerie par faisceau d'électrons est équipé d'un détecteur d'électrons secondaire ultra-haute résolution capable d'imager avec un contraste de 10 bits (1024 niveaux d'intensité), permettant une analyse détaillée des caractéristiques fines de l'échantillon à travers l'échantillon. Cet instrument est capable d'un large éventail de techniques analytiques, de la microscopie par imagerie d'orientation (OIM), la microscopie catho-optique (COM) et l'imagerie par transformée de Fourier (EFTEM). JEOL JSM-6330F est équipé d'un système de vide ultramoderne avec une vitesse de pompage de 20m3/h. Ce système de vide offre une plage de pression de 10-6 mbar à 10-2 mbar et assure des conditions adaptées au fonctionnement du détecteur d'électrons secondaire et des électrons à basse énergie. Le JSM 6330 F peut être utilisé sans chauffer la surface de l'échantillon (étage froid ou accessoire thermospray) ou en utilisant un élément chauffant facultatif pouvant atteindre des températures allant jusqu'à 650 ° C JSM 6330F peut être programmé avec une gamme de techniques analytiques. Sa fonction EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) offre une gamme de capacités analytiques, dont la cartographie élémentaire, l'imagerie de particules et le profilage de profondeur. La fonction « Particle Induced X-ray Emission » (PIXE) permet une analyse élémentaire non destructive de l'échantillon avec une résolution spatiale et une sensibilité élevées. Le mode JSM-6330F de microscopie électronique secondaire (SEM) est particulièrement adapté à l'imagerie de structures et de molécules traitées par ligand. Sa fonction d'auto-stigmatisation offre des aberrations d'image exceptionnellement faibles permettant de détecter des caractéristiques jusqu'au niveau du nanomètre. Le mode d'imagerie filtré en énergie permet d'analyser des caractéristiques de surface fines telles que des structures cristallines avec une résolution aussi faible que 50nm. JEOL JSM 6330 F peut également fonctionner en mode à pression variable (VP) permettant l'imagerie d'échantillons non conducteurs qui peuvent être endommagés par un bombardement électronique dans un microscope électronique à balayage traditionnel (SEM). Le mode VP peut être exécuté jusqu'à une atmosphère de 10-1 mbar et offre un environnement d'imagerie unique où des échantillons non conducteurs peuvent être observés même à des résolutions aussi basses que 10nm. Enfin, JEOL JSM 6330F est équipé d'une suite de traitement d'image avancée offrant des options d'analyse d'échantillons améliorées. Le logiciel de traitement d'image permet l'analyse automatisée d'images, l'analyse quantitative d'images, les reconstructions 3D et d'autres types d'analyse automatisée. Il permet également une analyse interactive des échantillons avec une vitesse de reconstruction rapide. Dans l'ensemble, JEOL JSM-6330F est un SEM extrêmement puissant et polyvalent qui est capable de produire des images de haute qualité à des résolutions exceptionnellement élevées avec une variété de capacités analytiques. Ses systèmes avancés de vide, de chauffage et de traitement d'image en font un choix de microscope de premier plan pour les chercheurs qui exigent le plus de leur instrument.