Occasion JEOL JSM 6330F #9258244 à vendre en France

JEOL JSM 6330F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise la technologie des colonnes électroniques pour tenir compte d'un large éventail de techniques, y compris l'analyse d'images, les travaux d'analyse élémentaire ou chimique et le profilage tridimensionnel de surface. Il est conçu pour l'imagerie à l'échelle nanométrique et l'analyse de surfaces, avec une résolution d'image allant jusqu'à 1 nm. La colonne électronique est une puissante source d'émission triple champ avec deux colonnes de canon et une colonne d'optique électronique séparée. Cela permet un balayage à grande vitesse avec des énergies de faisceau variables, ce qui est nécessaire pour produire des images de haute qualité, ainsi que pour l'analyse et la mesure chimiques. Le SEM dispose d'une caméra CCD haute résolution et de détecteurs à intensité variable pour la capture d'images SEM. Le microscope est également équipé d'un large éventail de capacités d'analyse et d'imagerie. Il s'agit notamment de l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), qui peut être utilisée pour identifier les différents éléments constitutifs d'un échantillon, ainsi que des techniques d'analyse par spectroscopie à rayons X et à dispersion d'énergie (EDS), capables de détecter et de mesurer la composition chimique des échantillons. En outre, JEOL JSM-6330F est équipé d'un système d'étage commandé par ordinateur, qui permet un déplacement automatisé et manuel précis de l'échantillon pendant le processus d'imagerie. Le logiciel comprend également des fonctionnalités automatisées pour la configuration des paramètres, l'acquisition et l'analyse des images, ainsi que le réglage automatisé du contraste et de la luminosité de l'image. Le microscope comprend également une capacité avancée de construction de modèles 3D, qui peut être utilisée pour créer des modèles 3D détaillés de spécimens. Le logiciel de modélisation fournit à l'utilisateur une interface pour créer rapidement des modèles 3D haute résolution. Les modèles 3D peuvent ensuite être utilisés pour visualiser un spécimen, ainsi que pour une analyse plus poussée. Dans l'ensemble, JSM 6330 F SEM est un outil puissant pour l'imagerie et l'analyse des caractéristiques d'échelle de nanomètre. Il dispose d'un large éventail de capacités d'imagerie et d'analyse, y compris des fonctions avancées de traitement d'image et de modélisation 3D, qui en font un outil idéal pour les chercheurs étudiant les matériaux nanométriques.