Occasion JEOL JSM 6330F #9288334 à vendre en France

JEOL JSM 6330F est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) qui offre des capacités d'imagerie inégalées. Cet instrument de pointe utilise des électrons secondaires (SE), des électrons rétrodiffusés (ESB), des composites d'images d'électrons secondaires (SEIC) et une technique d'angle de convergence variable pour améliorer la résolution et le contraste d'images. Une des caractéristiques de JEOL JSM-6330F qui le distingue des autres SEM est son grand champ de vision, avec un mode de balayage allant jusqu'à 20x jusqu'à une résolution maximale de 1 μ m. Cela élargit considérablement la portée de l'imagerie, permettant aux utilisateurs de capturer des images de plus grands échantillons plus compliqués dans le meilleur détail possible. En outre, JSM 6330 F est livré avec un détecteur de focalisation automatique qui se recentre rapidement sans intervention de l'utilisateur, contribuant à garantir une précision d'image maximale. JSM-6330F comporte une colonne électronique capable de travailler à l'une des cinq tensions d'accélération allant de 5kV à 30kV. Cela facilite l'examen d'un large éventail de types d'échantillons, depuis les matériaux organiques légers jusqu'aux grands et petits alliages métalliques. En ajustant la tension de fonctionnement, des détails plus fins et plus précis peuvent être identifiés dans un échantillon avec un risque minimal de dommages accidentels. L'instrument est conçu pour offrir une polyvalence maximale, tout en étant facile à utiliser. Doté d'une interface utilisateur intuitive et d'une étape d'échantillonnage automatisée, JEOL JSM 6330 F établit et aligne rapidement et de façon fiable l'échantillon pour l'analyse et l'alignement. Il a également des fonctions automatisées telles que le comptage des particules, pour donner des informations supplémentaires sur un échantillon. D'autres caractéristiques du JSM 6330F comprennent un système de vide avec une pompe à rugosité, un système de refroidissement intégral de l'échantillon pour éviter les dommages à l'échantillon, et un détecteur d'émission d'ions pour améliorer le rapport signal à bruit de fond. Tout cela s'ajoute pour faire de JEOL JSM 6330F un outil de recherche exceptionnel pour les scientifiques dans divers domaines.