Occasion BRUKER / SLOAN DEKTAK IIA #293615478 à vendre en France

L'équipement d'essai et de métrologie BRUKER/SLOAN DEKTAK IIA fournit des mesures précises et efficaces de la topographie de surface sur les plaquettes semi-conductrices, les substrats et autres composants microélectroniques. Le système utilise une technologie avancée d'interférométrie optique pour mesurer les tranchées, les profondeurs et les hauteurs à haut rapport d'aspect avec une vitesse et une précision de balayage rapides. Le Dektak BRUKER IIA est équipé d'une chambre optique élargie afin de faciliter la taille des plaquettes de 50 à 200 mm. Cette unité supporte de grandes plaquettes de 200 mm avec une précision de position de 10 µm et dispose d'un contrôle logiciel complet de la position des plaquettes, de l'autofocus et du réglage de l'inclinaison des plaquettes encastrées. Le Dektak SLOAN DEKTAK IIA dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive qui contrôle le processus de numérisation. L'interface utilisateur fournit une machine à menu facile à utiliser pour configurer l'outil de mesure. Le Dektak IIA comprend également des procédures d'alignement des actifs et une variété d'outils d'analyse de données qui garantissent des mesures rapides et précises. Avec une fonction Standard Resolver Calibration, les utilisateurs peuvent facilement sélectionner les meilleurs paramètres de résolution de mesure pour leur application. Le Dektak BRUKER/SLOAN DEKTAK IIA prend en charge la cartographie complète des plaquettes avec ses fonctions avancées de coupe transversale multi-coordonnées et de numérisation étendue. Cette fonction permet aux utilisateurs de mesurer jusqu'à 3 dimensions de profondeur, de hauteur et de profil sur toute la surface d'une plaquette. Avec son logiciel d'optimisation automatique de la hauteur, le Dektak BRUKER IIA est capable d'ajuster automatiquement le niveau de hauteur de la tête de mesure pour maintenir des résultats de mesure cohérents. Dans l'ensemble, SLOAN DEKTAK IIA wafer testing and metrology model est un équipement puissant, précis et fiable pour analyser la topographie de surface des wafers semi-conducteurs et autres composants microélectroniques. Grâce à son interface graphique intuitive, au niveau de hauteur de la tête de mesure réglable et à divers outils d'analyse de données, le Dektak IIA est bien adapté à de nombreuses applications de mesure.