Occasion CYBEROPTICS EX-43Q #9079803 à vendre en France

CYBEROPTICS EX-43Q
ID: 9079803
Wafer mapping sensor Dual wide beam Optimum detecting distance: 1.5" Maximum detecting range: 1.4" - 1.6" Voltage: 9 24 V DC Current consumption: 130 mA, 200 mA max Light source: (2) 850 nm Diode lasers (2) 0.6 mW max, 0.77 mW max Laser class: Class 1 (CDRH) Detectable objects: Transparent, opaque and mirrored surfaced objects Laser spot size: 10 mm x 0.05 mm Working angle: ±16° Response time: 400 us max Minimum pulse width: 5 msec Indicator: Laser power (Red) Signal out (Green) Control output: MOSFET Open drain, low true, 80 mA max at 24 V DC Connections: 16", (4) Conductor cables Temperature limits: Operating: 0° to 40°C Storage: -30° to 55°C.
CYBEROPTICS EX-43Q est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes optiques sans contact qui offre un profilage dimensionnel et topographique très précis pour les plaquettes jusqu'à trois pouces de diamètre. Ce système combine des algorithmes avancés de profilage avec une diode laser de grande puissance pour fournir des mesures rapides et de haute résolution. EX-43Q est fiable et robuste, ce qui le rend idéal pour la recherche automatisée et les tests manuels. L'unité utilise une tête optique Fiber Bragg Grating (FBG) avec une distance de repos de 15mm par rapport à la plaquette et une focale de 90mm pour une profondeur de focalisation supplémentaire. Cette tête optique est reliée à un étage XY motorisé avec un espace de travail de 470mm x 470mm, une portée de levage de 200mm et une précision d'alignement de 0.1µm. Combinées, ces caractéristiques permettent des mesures robustes et cohérentes des plaquettes et un haut degré de répétabilité. La machine est conçue pour fonctionner rapidement, avec une vitesse de balayage de 5,25 m/s et une accélération maximale de 1,3 m/s2, tout en offrant une précision de 3 µm de largeur totale à mi-hauteur (FWHM) sur une plage de planéité de plaquettes de 0,05 à 3,0 mm. En outre, CYBEROPTICS EX-43Q offre la visualisation et l'enregistrement de données, avec des données d'image stockées dans des formats graphiques tels que les fichiers JPG et TIFF. L'outil nécessite un minimum de maintenance ou d'intervention, ce qui le rend bien adapté aux environnements de production étendus. EX-43Q est très configurable et peut être utilisé dans plusieurs paramètres, avec des options supplémentaires telles qu'une tête d'inspection motorisée en boucle fermée et un accessoire de capture automatique des plaquettes disponibles. Dans l'ensemble, CYBEROPTICS EX-43Q wafer testing and metrology asset fournit des résultats fiables et précis de manière efficace et rentable. Sa conception sans contact avec air réduit l'usure des échantillons, tandis que son extensibilité et sa configurabilité en font un choix idéal pour une variété de scénarios d'essais automatisés et manuels.
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