Occasion GOM ATOS II Triple Scan #293775946 à vendre en France

GOM ATOS II Triple Scan est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe qui révolutionne l'industrie des semi-conducteurs en fournissant des solutions de mesure de haute précision et efficaces pour l'inspection des surfaces des plaquettes. Ce système de pointe combine une technologie de pointe avec des caractéristiques innovantes pour fournir des résultats fiables et précis, ce qui en fait un outil essentiel pour les fabricants de semi-conducteurs et les installations de recherche. ATOS II Triple Scan utilise une technologie brevetée de balayage optique 3D qui permet la mesure sans contact des surfaces de plaquettes avec une vitesse et une précision inégalées. Cette technologie repose sur une projection de lumière bleue structurée qui est combinée à des algorithmes avancés de traitement d'image pour capturer des données 3D détaillées de la surface de la plaquette. L'unité est équipée de caméras haute résolution et d'une puissante plate-forme logicielle qui permet la capture précise des caractéristiques et des défauts de surface même les plus petits. Une des caractéristiques clés de GOM ATOS II Triple Scan est sa capacité de balayage triple, qui permet la capture simultanée de trois scans individuels sous différents angles. Cette approche innovante réduit considérablement le temps de mesure tout en assurant une couverture complète de la surface de la plaquette. La machine offre également un processus de balayage automatisé, ce qui améliore encore la productivité et la cohérence dans les résultats de mesure. En plus de ses capacités de balayage à grande vitesse, l'outil Triple Scan ATOS II est équipé d'outils de mesure avancés qui permettent d'analyser la rugosité de surface, la planéité et d'autres paramètres critiques avec une précision exceptionnelle. La plateforme logicielle de l'actif fournit des outils intuitifs pour la visualisation, l'analyse et la déclaration des données, permettant aux utilisateurs de prendre des décisions éclairées en fonction des résultats des mesures. GOM ATOS II Triple Scan est conçu pour répondre aux exigences strictes de l'industrie des semi-conducteurs, en mettant l'accent sur la fiabilité, la répétabilité et la traçabilité. Le modèle est doté d'un design robuste et compact qui convient à une utilisation en salle blanche, garantissant des performances constantes même dans les conditions les plus exigeantes. L'équipement comprend également des mécanismes robustes d'étalonnage et de contrôle de la qualité pour assurer la précision et la cohérence des résultats des mesures au fil du temps. De plus, le système Triple Scan ATOS II est équipé de fonctionnalités d'automatisation avancées qui simplifient le processus de mesure et réduisent le besoin d'intervention manuelle. L'unité peut être intégrée avec des systèmes de manutention robotique et d'autres solutions d'automatisation pour améliorer encore la productivité et l'efficacité dans les essais de plaquettes et les opérations de métrologie. Dans l'ensemble, GOM ATOS II Triple Scan représente un progrès important dans la technologie d'essai de plaquettes et de métrologie, fournissant aux fabricants de semi-conducteurs et aux installations de recherche un outil puissant pour le contrôle de la qualité, l'optimisation des processus, ainsi que la recherche et le développement. Avec ses capacités de mesure de haute précision, ses caractéristiques innovantes et son design robuste, ATOS II Triple Scan est prêt à stimuler les progrès dans l'industrie des semi-conducteurs et à soutenir le développement de dispositifs semi-conducteurs de nouvelle génération.