Occasion LEITZ LIS #293598594 à vendre en France

LEITZ LIS est un équipement d'essai et de métrologie avancé développé par Nikon Metrology qui aide les fabricants de semi-conducteurs à réduire le coût, la complexité et le temps requis pour tester et mesurer leurs produits. Il combine la puissance d'un interféromètre laser haute résolution et une technologie d'imagerie avancée pour fournir aux fabricants les performances et la précision requises. Le système LIS consiste en un interféromètre laser très sensible qui mesure la surface d'une plaquette en 3D avec une précision allant jusqu'à 0,1 nanomètres. L'interféromètre laser est utilisé pour mesurer avec précision le profil de surface maximal de la plaquette, ainsi que ses écarts ou caractéristiques micro-structurales. L'unité d'imagerie capture une image de la surface de la plaquette à un grossissement élevé allant jusqu'à 5000x, découvrant les défauts, défauts et anomalies qui ne peuvent être vus par la microscopie optique classique. La technologie d'imagerie fournit au client une représentation très détaillée de la surface de la plaquette, ce qui leur permet d'identifier tout problème potentiel et de prendre des mesures correctives, si nécessaire. LEITZ LIS propose également un ensemble complet de métrologie conçu pour analyser divers aspects de la géométrie de la plaquette, tels que la rugosité de surface, la linéarité, la rectitude, le parallélisme et l'angularité. De plus, la machine peut être utilisée pour examiner des motifs potentiels de contraintes et de contraintes sur la plaquette ou la puce, ainsi que l'indice de réfraction des substrats et la couche d'oxyde sur la plaquette. LIS est un outil facile à utiliser et complet qui a le potentiel de révolutionner l'industrie des essais de plaquettes et de la métrologie. Il offre une grande précision, répétabilité et précision, ainsi qu'une solution d'analyse intégrée qui permet aux fabricants d'identifier rapidement les défauts et anomalies potentiels, réduisant le temps et le coût de fabrication. LEITZ LIS est une solution idéale pour les fabricants de semi-conducteurs à la recherche d'un actif de test et de métrologie fiable et avancé.