Occasion LEITZ SP #109670 à vendre en France

LEITZ SP Wafer Testing and Metrology Equipment est un outil de métrologie de pointe utilisé dans l'industrie des wafers pour examiner les surfaces des wafers et les paramètres électriques. Ce système offre les résultats de test et de métrologie de plaquettes les plus précis et précis disponibles et est capable de tester des plaquettes de différentes tailles et épaisseurs. SP est une unité de test et de métrologie automatisée avec une interface tactile interactive intégrée. Une machine de commande de mouvement entraîne les étages laser et linéaire, ce qui permet de mesurer exactement les surfaces des plaquettes et les paramètres du dispositif. L'outil peut mesurer rapidement et avec précision les paramètres de surface tels que la topographie de surface et les caractéristiques électriques. LEITZ SP dispose d'un microscope d'imagerie haute vitesse, qui est équipé d'une caméra sCMOS haut de gamme et d'une source lumineuse pour capturer des images détaillées de surfaces de plaquettes. Il est capable de mesurer jusqu'à deux plaquettes à la fois et peut prendre des mesures à des vitesses allant jusqu'à 900 mm/s. Il est également équipé d'un profileur multipoints qui peut mesurer avec précision le profil d'une plaquette à 0,01 µm près. L'actif comporte également un réseau de détecteurs optiques qui peut mesurer des caractéristiques électriques telles que la résistance, la capacité et la conductance. SP comprend également un modèle de détection de défauts qui permet la détection automatisée de défauts dans les plaquettes. L'équipement est supporté par une suite logicielle qui fournit des capacités de traitement de données rapides et efficaces. Le logiciel fournit aux utilisateurs une interface graphique puissante pour définir les configurations, l'analyse et les rapports. En résumé, LEITZ SP Wafer Testing and Metrology System est un outil innovant conçu pour répondre aux besoins de l'industrie des wafers. Il offre une mesure très précise, précise et automatisée des paramètres de surface de la plaquette et des caractéristiques électriques. L'unité est pilotée par une machine de contrôle de mouvement fiable et efficace, équipée d'un microscope d'imagerie haute vitesse et d'un outil de détection des défauts, et supportée par une suite logicielle pour un traitement de données rapide et efficace. SP peut aider les laboratoires de fabrication et de recherche de plaquettes à améliorer la précision et la précision des essais de plaquettes.