SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO (Test de Wafer et métrologie) d'occasion à vendre

SII NANOTECHNOLOGY, également connu sous le nom de SEIKO, est un fabricant renommé dans le domaine de l'essai de plaquettes et de l'équipement de métrologie. Leurs produits assurent la précision et la fiabilité des dispositifs semi-conducteurs pendant le processus de fabrication. Les systèmes de test de plaquettes produits par SII NANOTECHNOLOGY offrent des mesures et des analyses précises des plaquettes semi-conductrices. Ces unités utilisent des technologies de pointe telles que la méthode du convertisseur analogique-numérique (ADC), qui assure des mesures à grande vitesse et haute précision. Les machines de test de plaquettes comprennent également une gamme de fonctions telles que la simulation de forme d'onde, le tri de la matrice et la génération de programmes de test, les rendant polyvalentes pour différentes exigences de test. Les outils de métrologie développés par SII NANOTECHNOLOGY sont conçus pour mesurer et caractériser divers paramètres des dispositifs semi-conducteurs. Ces actifs utilisent des technologies de pointe comme l'interférométrie Doppler laser et l'ellipsométrie pour déterminer avec précision des paramètres tels que la rugosité de surface, l'épaisseur du film et l'indice de réfraction. Les modèles de métrologie offrent également des capacités de mesure automatisées, facilitant des processus d'essai efficaces et rapides. SII NANOTECHNOLOGY propose une gamme d'équipements d'essai et de métrologie des plaquettes, y compris les modèles XV-300DB et Chips200. Le XV-300DB est un système de test de plaquettes haute vitesse capable de manipuler des plaquettes jusqu'à 300 mm de taille. Il offre des fonctionnalités avancées comme des essais multi-sites et des mesures de haute précision. Le Chips200, en revanche, est un système de métrologie spécialement conçu pour mesurer les couches minces. Il offre une précision et une répétabilité exceptionnelles, ce qui le rend idéal pour le contrôle de qualité et les applications de recherche. Dans l'ensemble, les systèmes de test et de métrologie des plaquettes SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO offrent de nombreux avantages, notamment des mesures précises, des tests à grande vitesse, des fonctionnalités avancées et des capacités d'automatisation. Ces unités jouent un rôle essentiel pour assurer la qualité et la fiabilité des dispositifs semi-conducteurs pendant le processus de fabrication.