Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO Chips200 #9043060 à vendre en France

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO Chips200 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui fournit des mesures précises et en temps réel des caractéristiques électriques, physiques et optiques critiques des dispositifs et matériaux semi-conducteurs. Il permet l'analyse des données de surface des plaquettes, y compris la mesure des caractéristiques/contraintes, l'analyse de l'échelle des nanomètres et l'analyse des défaillances. Le système intègre une gamme unique de techniques d'imagerie, y compris l'imagerie polarisée optique, l'imagerie en champ sombre et la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD). Ces techniques permettent l'imagerie haute résolution et l'analyse de fonctionnalités spécifiques d'une variété de caractéristiques, telles que les limites du grain, la rugosité de l'interface et les micro-défauts. La capacité d'imagerie en champ sombre de l'unité permet de détecter des caractéristiques morphologiques telles que les dislocations, les limites des grains, les jumeaux, les couches d'oxyde, et plus encore. Ceci est particulièrement utile pour l'analyse des défaillances, car il permet aux utilisateurs d'observer et de localiser une variété de défauts. La technique EBSD, quant à elle, utilise un faisceau d'électrons pour créer un diagramme de diffraction des orientations cristallines. Ceci peut être utilisé pour mesurer avec précision les structures cristallines de la plaquette, en fournissant des informations sur l'orientation du cristal, la granulométrie et les défauts cristallins. La machine est également équipée de capacités avancées de métrologie de plaquettes. Il peut mesurer automatiquement les paramètres tridimensionnels, y compris le CD (dimension critique), la taille du trou de contact, la largeur de la ligne et le recouvrement. De cette façon, SEIKO Chips200 peut générer rapidement des données qui peuvent être utilisées pour évaluer les performances des appareils. L'outil est facile à configurer et à utiliser. Il est livré avec une interface utilisateur graphique (interface graphique) qui est intuitive même pour les utilisateurs inexpérimentés. Il dispose également d'un fonctionnement hautement automatisé et de données d'entrée, ce qui le rend très efficace et rentable. Dans l'ensemble, SII NANOTECHNOLOGY Chips200 est un outil puissant et polyvalent de test de plaquettes et de métrologie. Il offre une large gamme de capacités pour effectuer des mesures et des analyses de haute précision des dispositifs semi-conducteurs. Ses techniques d'imagerie avancées et son fonctionnement automatisé en font un outil précieux pour contrôler la qualité et les performances des appareils.