Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO XV-300DB #293614932 à vendre en France

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB Wafer Testing and Metrology Equipment est un outil puissant conçu pour mesurer, analyser et comparer différents types de matériaux de manière rapide et précise. SEIKO XV-300DB dispose d'un système de métrologie optique sophistiqué intégrant une interférométrie avancée en lumière blanche (WLI) et plusieurs algorithmes de traitement d'images. Cette unité est capable d'imagerie et de mesure haute résolution des propriétés optiques 3D des plaquettes semi-conductrices, des substrats de plaquettes et autres couches minces. La machine dispose d'une suite de mesures complète qui comprend des caractéristiques telles que l'épaisseur optique, la rugosité de surface, les propriétés cristallines optiques et diélectriques. Il fournit également une analyse des modèles de défauts et des mécanismes de défaillance ainsi qu'une analyse dimensionnelle détaillée avec des données 3D, X-Y et X-Y-Z. L'outil offre un large éventail de capacités pour les essais de plaquettes et la métrologie, y compris l'inspection des couches de litho-gravure, par défaut, superposition et analyse SRAM, ainsi que l'inspection des particules. SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB supporte également la mesure et l'imagerie à l'échelle nanométrique, avec une précision de 0,1 nanomètres. XV-300DB propose également des logiciels avancés permettant des mesures rapides et précises, l'analyse des données et l'automatisation du flux de travail. Ses programmes conviviaux en mode facile réduisent considérablement la courbe d'apprentissage, ce qui rend cet atout parfait pour tout utilisateur, quelle que soit son expérience technique. Le mode Expert programmable par l'utilisateur permet des réglages de fonctionnement personnalisés, permettant aux utilisateurs d'adapter leurs mesures à leurs besoins spécifiques d'application. Le logiciel comprend également une bibliothèque intégrée des défauts pour la gestion des données des plaquettes et des défauts, ainsi que des fonctions d'analyse avancées pour l'analyse et la maintenance des défauts. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB dispose d'une caméra intégrée pour l'imagerie précise et le positionnement des substrats, ainsi que le réglage manuel de l'alignement de précision. Le modèle a également un design ergonomique pour un fonctionnement facile et pratique. En outre, SEIKO XV-300DB est compatible avec de nombreux accessoires, y compris des lentilles à large champ, verre index, contributions à la fluorescence, et beaucoup plus. Ces caractéristiques font de SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB un outil de métrologie multifonctionnelle essentiel pour de nombreuses industries différentes. Pour s'assurer que chaque unité de l'équipement fonctionne à son niveau de performance optimal, XV-300DB est équipé de la technologie d'assistance à distance, permettant un soutien en ligne et des mises à niveau. En outre, le système est desservi par un centre d'assistance client certifié SEIKO, offrant des services complets d'entretien et de réparation. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB Wafer Testing and Metrology Unit est un excellent outil pour toute entreprise qui a besoin d'effectuer des essais précis, fiables et rentables et métrologie de films minces, de semi-conducteurs et d'autres matériaux. Avec ses fonctions d'analyse avancées et son matériel puissant, SEIKO XV-300DB est le choix idéal pour les applications de haute technologie d'aujourd'hui.