Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO XV-300DB #293667892 à vendre en France

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB est un équipement robuste d'essai de plaquettes et de métrologie. Il est multifonctionnel et conçu pour optimiser à la fois l'efficacité et la précision. SEIKO XV-300DB réalise des étapes critiques pour le développement et la fabrication de composants microélectroniques haut de gamme. Il dispose d'un système de vision avec un logiciel de reconnaissance des couleurs et de détection des bords pour un alignement précis de la plaquette d'échantillon. Cette unité est également complétée par une machine de manutention entièrement automatisée qui permet un flux de travail rapide. Les capacités d'acquisition d'images de SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB comprennent l'imagerie de surface, les mesures de terrain de Fourier et les mesures de résistivité. XV-300DB est conçu pour des environnements d'échantillonnage à haut débit. Grâce à sa fonction de cartographie automatisée, SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB peut rapidement scanner des plaquettes entières pour les marquer et les inspecter. En utilisant une gamme de balayage allant jusqu'à 150 mm x 150 mm, SEIKO XV-300DB peut mesurer avec précision jusqu'à 25 mm de superpositions en un seul balayage. L'outil permet ainsi aux utilisateurs de produire des résultats rapides et de meilleure qualité. SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB comprend une suite complète de numérisation et d'analyse d'images, permettant une évaluation automatisée de jusqu'à 90 processus et jusqu'à 100 caractéristiques. Il est capable de vérifier les propriétés de surface et de plaquette telles que la granulosité, la réflectivité de surface, les propriétés d'adhérence, les plans de surface, l'épaisseur, la planéité, et plus encore. Sa grande précision et sa répétabilité aident à réduire le temps de commercialisation de tout projet. Chaque actif comprend une gamme de mesures et de techniques utilisées pour différents objectifs. Ceux-ci comprennent le profilage de surface, la topographie des dimensions critiques (CD), la superposition et l'échelle des dimensions critiques, la mesure de l'inclinaison, la cartographie de l'épaisseur constante, et plus encore. Ces techniques permettent aux utilisateurs d'acquérir une compréhension complète de l'information topographique de la surface. XV-300DB a une large base d'utilisateurs, qui parle de ses performances globales et de la satisfaction des utilisateurs. Il est également capable d'opérations mains libres, réduisant le travail manuel et les coûts associés. Ses capacités de test intégrées aident également à accélérer les processus de test des plaquettes. Ce modèle robuste d'essais et de métrologie aide à détecter et à comprendre les erreurs induites par les processus, telles que la rugosité des bords et de la largeur, ainsi que les défauts de réduction des rendements. Grâce à ses capacités supérieures de traitement et d'analyse d'images, SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB peut contribuer à améliorer le rendement et à assurer la fabrication de composants microélectroniques haut de gamme avec une efficacité et une précision optimales.