Occasion PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20 UT D214 #293607886 à vendre en France

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 UT D214 est un microscope électronique à balayage à double faisceau (SEM) conçu pour des applications avancées d'imagerie et de caractérisation. Ce microscope polyvalent a été conçu pour fournir une résolution visuelle et des capacités analytiques inégalées dans les industries de la recherche universitaire, industrielle et des matériaux. FEI Tecnai G2 F20 UT D214 utilise une impressionnante collection de technologies d'imagerie et d'analyse, y compris un vaste champ de vision et des capacités FIB/ESEM intégrées. Les capacités de balayage avancées de ce microscope sont rendues possibles par l'émetteur Schottky à haute résolution et la source d'électrons à haut débit refroidi cryogénique. Cela aide à fournir une imagerie haute résolution de la topographie de l'échantillon dans un grand champ de vision. Le grossissement peut aller de 5x à 2.000.000x, ce qui permet une variété de tâches d'imagerie microscopique. En outre, des fonctionnalités d'imagerie avancées telles que l'imagerie à pression variable, la tomographie à pression variable, les images 3D de rayons X, et la manipulation de grande chambre d'échantillonnage sont facilement disponibles. Les capacités FIB/ESEM intégrées de PHILIPS Tecnai G2 F20 UT D214 sont essentielles pour les essais ou les matériaux. Sa technologie DualBeam™ permet l'imagerie d'échantillons à haute résolution et l'enlèvement interactif de matériaux pour l'analyse nanométrique. La lithographie du faisceau d'électrons DLAN du microscope permet également d'écrire directement des motifs et des structures de matériaux sur les surfaces, ce qui donne aux chercheurs un contrôle plus robuste des caractérisations. Tecnai G2 F20 UT D214 offre également des capacités analytiques améliorées, y compris l'énergie avancée et la spectroscopie dispersive en longueur d'onde (EDS/WDS). Cela permet aux utilisateurs d'effectuer une analyse élémentaire et d'identifier les phases des échantillons. Les éléments peuvent être identifiés avec une grande précision et à différentes concentrations. De plus, les détecteurs satellites de l'instrument ajoutent un niveau de précision inégalé et une vitesse accrue à la fois pour EDS et WDS. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 UT D214 est un microscope électronique à balayage inégalé, utilisé pour accomplir une myriade de tâches d'imagerie et d'analyse. Ses capacités intégrées DualBeam™ et FIB/ESEM permettent l'imagerie topographique avancée, tandis que sa spectroscopie dispersive énergie/longueur d'onde permet l'analyse élémentaire et l'identification. Avec ses capacités de balayage haute résolution et ses fonctions analytiques robustes, le FEI Tecnai G2 F20 UT D214 est un choix polyvalent pour une variété d'applications de recherche.