Occasion ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293586543 à vendre en France

ID: 293586543
Wafer inspection system.
L'ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 est un important matériel d'essai et de métrologie utilisé pour observer et analyser les caractéristiques du niveau des particules à la surface des plaquettes et autres matériaux semi-conducteurs. Il est important de comprendre les détails fins des caractéristiques de surface d'un produit semi-conducteur parce qu'ils définissent ses performances et, en fin de compte, la qualité du dispositif. L'ADE AFS 3220 offre une solution de métrologie de surface 3D précise et complète qui peut mesurer des caractéristiques sur une grande surface, y compris des particules, des marquages, des caractéristiques structurelles et géométriques, et des formes inhabituelles. Grâce aux technologies de numérisation et de topographie, il peut mesurer la régularité de surface, la largeur, la hauteur et le rayon de courbure de ces caractéristiques. La KLA AFS 3220 propose deux modes de balayage principaux qui en font un outil idéal pour le test des plaquettes et la métrologie. Le premier mode de balayage est le balayage en ligne qui est utilisé pour des mesures rapides sur une grande surface. Ce mode capture très rapidement les données brutes de topographie de forme et de surface. Le deuxième mode de balayage est le balayage de zone qui capture des données de plus haute résolution en détail. Ce mode peut être utilisé pour l'analyse détaillée des caractéristiques de surface des particules. Le système est équipé d'un capteur d'imagerie haute résolution, d'un étage de balayage de précision laser et d'algorithmes automatisés pour une imagerie précise et fiable. Il comprend également une unité de positionnement Z de haute précision qui permet une plus large gamme de champ de vision et une grande gamme de caractéristiques de surface. Une caractéristique clé de l'AFS 3220 est son processus d'imagerie automatisé qui élimine les étapes d'imagerie manuelle, assurant que les résultats seront répétables et reproductibles. Il fournit également une interface utilisateur intuitive qui aide à minimiser le temps de formation, permettant aux utilisateurs de se mettre rapidement en marche sans instructions considérables. Dans l'ensemble, TENCOR AFS 3220 est une machine fiable et conviviale qui permet à un utilisateur de capturer, d'analyser et de rapporter une large gamme de caractéristiques de surface au niveau des particules d'un produit semi-conducteur avec précision. Il s'agit d'un outil indispensable pour ceux qui ont besoin d'une évaluation efficace et précise des essais de wafer et de la métrologie.
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